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详细说明

高低温介电温谱测试系统

测试材料
  1. 无机薄膜，有机薄膜，陶瓷，厚膜等
测试真空度
  1. 小于100PA
测试参数
  1. Cp.D,Z,R等
测试样品数
  1. 1-4样/次
测试频率
  1. 20Hz~1/2/5/10MHz
控温速度
  1. 1~30℃/min(常用3-5℃/min)
温度范围
  1. -190-600℃
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产品说明

HCT18XX系列型高低温介电温谱测试系统是一款实测温度范围-180℃~500℃的多功能型多通道变温电学测量系统，可为测试提供精准的温度控制，与安捷伦，是德，稳科，日置，同惠，志新等品牌的LCR表联用。适用于薄膜、陶瓷材料的介电温谱，频谱测试，配置1~4通道测量，可抽真空/气氛测量。产品已助力客户数据发表在Adv. Mater. , Chem. Eng. J、J. Mater. Chem. A，Adv. Elect. Mater，J. Mater. Chem. C等期刊。国内合作客户：清华大学，同济大学，四川大学，中科院，聊城大学，安徽工业大学等。

产品配图

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